天眼查显现，比亚迪半导体股份有限公司“存储器测验方法、存储器测验设备、存储介质和电子设备”专利发布，请求发布日为2024年12月27日，请求发布号为CN119207534A。

  本发明公开了一种存储器测验方法、存储器测验设备、存储介质和电子设备，所述存储器测验方法有：遍历待测存储器的每个存储单元，在遍历过程中，依照预设跋涉规矩对遍历到的方针存储单元以及与所述方针存储单元相邻的相邻存储单元进行数据读写操作；对所述方针存储单元的读取数据与所述相邻存储单元的读取数据来进行逻辑运算，以取得实践逻辑关系值；若所述实践逻辑关系值与规范逻辑关系值不一致，则确认所述待测存储器存在严峻毛病，选用该方法可以经过实践逻辑关系值来检测到存储器的毛病状况，测验算法的可靠性较高，一起统筹毛病覆盖率和测验复杂度，且毛病测验功率较高。

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