天眼查显现，合肥康芯威存储技能有限公司近来获得一项名为“一种存储芯片的测验办法及测验设备”的专利，授权公告号为CN118471309B，授权公告日为2024年9月6日，请求日为2024年7月3日。

  本发明供给一种存储芯片的测验办法及测验设备，归于存储技能范畴。所述存储芯片的测验办法有以下过程：对主机上电并开机，并向存储芯片发送初始化指令；存储芯片接收到初始化指令后，榜首计时器开端计时，并对存储芯片进行初始化；存储芯片完结初始化后；当榜首计时器的时刻抵达预设时刻，向主机发送反应信息；若主机接收到反应信息的时刻未超过上电时刻，则主机正常开机，之后对主机下电；存储芯片根据主机的下电次数更新预设时刻；从头对主机上电，直至主机接收到反应信息的时刻超过上电时刻，并获取上个循环中的预设时刻作为存储芯片的最大上电时刻。经过本发明供给的存储芯片的测验办法及测验设备，可主动获取存储芯片的最大上电时刻。

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